Экология окружающей среды стран СНГ

Установка для голографического контроля качества тонких листовых материалов

В.Е. Мандель, А.Ю. Попов, А.В. Тюрин, Ю.Б. Шугайло

Научно – исследовательский институт физики при

Одесском государственном университете им. И.И. Мечникова

Создана установка, позволяющая методом голографической интерферометрии выполнять комплекс измерений для неразрушающего контроля анизотропии механических параметров и свойств монолитных и композитных материалов листовой формы размерами до 0,5х0,5 м. Установка позволяет также выявлять и визуализировать наличие внутренних механических напряжений в материале.

В отличие от ранее применяемых методов, связанных с созданием отверстий, канавок и снятием слоев, предложенный метод является неразрушающим. В качестве тестирующего воздействия используется точечный центральный нагрев образца на величину 3-60о С в зависимости от размеров и материала образца (например, фольгированные гетинакс и текстолит, кремниевые шайбы, металлический прокат).

Голографическое интерферометрирование может производиться как в реальном масштабе времени, что позволяет изучать динамику развития деформаций и внутренних напряжений, так и методом двойной экспозиции.

Интерферограммы обрабатываются по разработанным алгоритмам с применением метода последовательных фазовых шагов, сплайн-методов и графическим построением трехмерного поля деформаций. Информация в ЭВМ вводится при помощи телевизионной камеры. Величина определяемых деформаций находится в диапазоне от 0,2 до 30мкм.

Время анализа одной интерферограммы для компьютера с тактовой частотой более 200 Мгц составляет менее секунды. При использовании фототермопластической камеры суммарное время тестирования образца (включая время записи голограммы) может составлять несколько секунд, что позволяет осуществлять на производстве поточный контроль изделий.

Дополнительная информация – ." Оптич. журн. 1995, № 1. С.71-74.

Адрес: Украина, 65026, г. Одесса, ул. Пастера, 27, НИИ физики ОГУ

Контактный телефон: 0482-238036

Добавить в закладки:                               Обсудить на форуме

Схожие публикации: